Transmission electron microscopy - diffraction, imaging, and spectrometry

Författare
(Edited by David B. Williams, C. Barry Carter.)
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Springer 2016 Schweiz, Cham xxiii, 518 sidor illustrationer 28 cm 978-3-319-26649-7
Springer 2016 Schweiz, Cham online resource (xxiii, 518 sidor) illustrationer 978-3-319-26651-0